珠海一微半导体申请不良内核的自检方法专利，实现对多核芯片内不良内核的检测

金融界2024年10月17日消息，国家知识产权局信息显示，珠海一微半导体股份有限公司申请一项名为“不良内核的自检方法、多核芯片、自检系统及机器人”的专利，公开号CN 118779166 A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本申请公开不良内核的自检方法、多核芯片、自检系统及机器人，所述自检方法包括：多核芯片进行多次重启，每次重启时多核芯片内部相匹配数量的处理内核均进行内存负载测试，以基于内存负载测试判断其是否为不良内核。经过多次重启后，判断出多核芯片内部所有不良内核，以完成对所述多核芯片内部所有的不良内核的检测。自检系统包括所述的多核芯片，以使自检系统用于实现所述自检方法。机器人装配所述的自检系统，以使机器人启动后通过执行所述自检方法来在所述多核芯片中检测出不良内核。

来源：金融界