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浮思特 | 宇宙辐射如何影响半导体功率器件的故障率?

作者:浮思特科技发布时间:2024-10-18

能量粒子以多种方式影响半导体芯片,例如存储器、处理器以及模拟和电源设备。器件的故障率取决于其所暴露的辐射量,这不仅是空间应用中至关重要的因素,在地面电源转换器设计中也同样重要。本文讨论了宇宙辐射对宇宙设备故障率的主要影响因素。 半导体器件的故障率 “浴缸曲线”通常用于图示半导体器件的使用寿命。这一曲线呈现了故障率与时间的关系,其中包括一个初始的高故障率阶段,称为“初生故障期”。在精心确定的应力条件下对器件和模块进行测试,可以筛选出在这一部分浴缸曲线中容易发生故障的器件。紧接着初生故障期的低平部分是器件的正...【查看原文】


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