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华科/安师大Nano Lett.: 离域电子填充vdW层,实现超高电流密度

作者:MS杨站长发布时间:2024-09-15


具有优异析氢反应(HER)性能的二维过渡金属二卤化物(TMDCs)已成为推进绿色氢能发展的一种可行的贵金属替代品。然而,由于较低的电导率和有效电荷转移动力学,大部分基板表现出相对较低的HER活性,限制了整体性能。因此,许多研究集中在提高TMDCs的电导率,以实现有效的电荷转移。然而,在层相关催化剂上,电子往往沿着二维平面传导,而垂直方向往往是禁止的,因为在vdW间隙存在巨大的能量障碍(夹层的电阻比面内表面的电阻高出2数量级以上)。

因此,电子难以穿透vdW层并从收集器持续注入或收集到表面位点,阻碍了反应动力学并降低整体活性。基于此,增强垂直电荷转移动力学预计将有助于在克服TMDCs对HER的内在限制方面取得突破。



近日,华中科技大学翟天佑刘友文安徽师范大学卢宁等提出了一种用离域电子填充vdW层以提高垂直导电性和激活基面的策略。密度泛函理论(DFT)表明,当Cu被限制在TMDCs的层间时,它的d轨道电子,特别是dzz和dxz轨道电子会离域,从而成为促进层间电子快速传导的导电通道。

基于此,研究人员通过化学插层的方法制备了Cu-TaS2杂化材料,在Cu插层后,TaS2基面的ΔGH*从−0.135降低到0.023 eV。此外,原子力显微镜和电子测量证实了该材料优异的垂直导电性,与TaS2相比增加了2个数量级。



研究人员制备了一系列基于Cu-TaS2材料的独立底部接触器件,并获取了它们的HER性能,以验证该策略的通用性。结果显示,这些器件的过电位和Tafel斜率的改善,这证明了Cu插层对HER性能的有效改善。同时进行了计时电流测定实验,Cu-TaS2杂化体的反应电流保持超过45分钟,且反应后材料的拉曼光谱中的峰没有变化,证实了Cu插层结构的稳定性。总的来说,该项工作证实了垂直电荷转移可以打破层依赖性电催化剂对HER的内在限制,可能为电催化剂设计提供了新思路。

Interlayer delocalized electrons activate basal plane for ultrahigh-current-density hydrogen evolution. Nano Letters, 2024.


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