武汉昕微申请超分辨率偏振成像测量系统与算法专利，具有低成本高感光性等优点

金融界2024年10月28日消息，国家知识产权局信息显示，武汉昕微电子科技有限公司申请一项名为“一种超分辨率偏振成像测量系统与算法”的专利，公开号CN 118817615 A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本发明涉及偏振光学成像技术领域，公开了一种超分辨率偏振成像测量系统与算法，该系统包括光源、具有旋转结构和内置起偏线偏振片的起偏器、具体旋转结构和内置检偏线偏振的检偏器、检测样本和工业相机，其中所述起偏器和检偏器包括单偏转模式和双偏转模式，起偏器和检偏器中的旋转机构包括可以控制旋转的具有同轴旋转运动的电控旋转台，起偏器和检偏器中的线偏振片分别与对应的电控旋转台的中心固定，电控旋转台控制线偏振片进行周期性旋转，每次固定角度旋转后使工业相机进行进行一次采图，多次采样得到多幅图片带有不同偏振信息的图像，之后根据采样得到图像进行算法计算；本发明具有低成本，高感光性，简洁性与高分辨率的优点。

来源：金融界