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信阳星原智能科技申请半导体电热膜质量检测装置及方法专利,真实表征半导体电热膜的实际质量

作者:金融界发布时间:2024-10-28

金融界2024年10月28日消息,国家知识产权局信息显示,信阳星原智能科技有限公司申请一项名为“一种半导体电热膜质量检测装置及方法”的专利,公开号 CN 118817591 A ,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本发明公开了一种半导体电热膜质量检测装置及方法,其中一种半导体电热膜质量检测装置包括:机架,其上设置有刹车电机和旋转框,所述旋转框与机架回转相连,所述刹车电机与旋转框传动连接,通过刹车电机带动旋转框绕水平轴线回转;多个Y轴平移装置一,分设旋转框的两侧,每个Y轴平移装置一上均设置有X轴平移装置一。有益效果:本申请的半导体电热膜质量检测装置从多个方向对半导体电热膜进行挤压弯折,折痕多,折痕方向不唯一,且折痕覆盖半导体电热膜的全部区域,真实再现了衣服内的半导体电热膜受身体运动影响的实际折弯情况,故检测结果能够真实地表征半导体电热膜的实际质量。

来源:金融界


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