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翱泰温控器申请检测厚膜发热器内部轨道焊接缺陷专利,提高检测厚膜发热器焊接缺陷的精准性

作者:金融界发布时间:2024-11-14

金融界2024年11月14日消息,国家知识产权局信息显示,翱泰温控器(惠州)有限公司申请一项名为“检测厚膜发热器内部轨道焊接缺陷的方法、系统、设备及自动化检测生产线”的专利,公开号 CN 118937406 A,申请日期为2024年8月。

专利摘要显示,本申请提供一种检测厚膜发热器内部轨道焊接缺陷的方法、系统、设备及自动化检测生产线,检测厚膜发热器内部轨道焊接缺陷的方法包括:向标准厚膜发热器通入压缩气体;使标准厚膜发热器工作,标准厚膜发热器工作时间为t1;获取标准厚膜发热器在t1时间内整体区域EL1的平均温度T(EL1),以及中心区域EL2的平均温度T(EL2);计算T(EL2)‑T(EL1)的数值△T1;向待检测厚膜发热器通入压缩气体;使待检测厚膜发热器工作;获取待检测厚膜发热器在t1时间内整体区域EL3的平均温度T(EL3),以及中心区域EL4的平均温度T(EL4);计算T(EL4)‑T(EL3)的数值△T2;若△T2不大于△T1,则该待检测厚膜发热器是良品。

来源:金融界


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