元素分析测试：实验室不同检测方法

元素分析可用于确定样品中各种元素的含量和存在形式，准确测定元素及其含量可以保证后续过程的过程控制。元素分析的方法有化学法、光谱法、能谱法等，这些方法各具特点，在实际应用中可根据样品类型和分析需求选择。实验室参考针对元素杂质检测经验案例，总结几种不同的分析检测方法如下，抛砖引玉供各位参考。

ICP元素分析是利用电感耦合等离子体技术，发展较快的一种测试方法，样品同通过原子化、离子化后将这些离子引入高真空的质量分析器从而得到定性和定量的结果。可以检测痕量和超痕量元素，对同位素丰度测量灵敏、准确。但是在测定元素杂质时，光谱和非光谱的干扰，可能会对测定结果产生影响，对实验的标准化和流程化存在较大的挑战。

有机元素分析EA，主要是利用高温燃烧的原理来分析样品中常规有机元素含量，单次测试所需时间短，主要对物质中的C、H、N、S、O元素进行定量分析，这是一种研究有机物组分较为常见的表征方法。

离子色谱IC，是高效液相色谱的一个分支，是快速分析检测阴阳离子的一种方法。基于离子交换树脂上可离解的离子与流动相中具有相同电荷的离子之间进行的可逆交换，使得样品中多种离子进行分离，然后用电导检测器连续检测流出物电导变化，最终实现较为完整的定性定量检测。

X射线荧光光谱XRF，是根据样品组成的特征辐射，通过测定不同元素特征X射线是否存在对物质成分进行定性分析，根据特征X射线强度的大小进行定量分析。方法检出限低、效率高、易定量、操作便捷以及可无损分析，在材料、环境、地质等样品领域有着独到的优势。

X射线光电子能谱XPS，使用一束X射线对样品表面进行激发，测量从样品表面几个纳米深度内发射出的光电子的动能，得到XPS谱图，根据图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息，峰强即为样品表面元素含量或浓度。

二次离子质谱法SIMS，是对固体物质表面或薄层进行单元素和多元素痕量分析的质谱方法，对研究固体物质的深度特征和元素的表面横向分布(成像)具有特殊功能，几乎对所有元素最低可测浓度可达μg·g-1量级，有些甚至到ng·g-1量级，近年来越来越多的用于晶体中掺杂元素的检测。

除上述方法外元素分析检测还有辉光放电质谱法(GDMS) 、电子探针（EPMA）等方法检测元素含量，在生物医学、质量控制、材料科学、地质勘探、食品安全等领域都有着重要意义。微源检测实验室提供口服原料药及其制剂7元素/注射原料药及其制剂10元素等元素杂质检测、重金属含量检测、离子含量检测等技术服务，专业仪器设备的以及丰富项目经验为您提供产品的安全性与有效性保证。如您有相关需求欢迎致电咨询！

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