西安中核核仪器申请圆角式高纯锗探测器高精度表征方法专利，减少高纯锗探测器在低能端模拟结果的不精确性

金融界2024年10月31日消息，国家知识产权局信息显示，西安中核核仪器股份有限公司申请一项名为“一种圆角式高纯锗探测器的高精度表征方法”的专利，公开号 CN 118839582 A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本发明公开了一种圆角式高纯锗探测器的高精度表征方法，包括步骤：一、构建高纯锗探测器3D模型；二、选取特定能量射线进行蒙特卡罗抽样模拟；三、确定外死层参数调整方向并进行模型调整和蒙特卡罗模拟；四、选取最接近于真实实验数据的一组参数值作为高纯锗探测器的基准表征；五、圆角部死层非均匀调整和蒙特卡罗模拟；六、选取此时最接近于真实实验数据的一组参数值作为高纯锗探测器的高精度表征。本发明实现高纯锗探测器的精确建模，尤其是对圆角部分的晶体做了模型的建立，对于圆角死层做了相应的修正，减少了高纯锗探测器在低能端模拟结果的不精确性。

来源：金融界