晶体结构:XRD可以通过分析衍射图样(衍射谱)来确定材料的晶体结构,包括晶格常数、晶胞参数、晶体对称性等信息。这对于确定晶体的晶体结构类型 (例如立方晶系、正交晶系、单斜晶系 等)以及晶格畸变 (例如应力、应变等)非常有用。
晶体相组成:XRD可以通过分析衍射图样来确定材料中的晶体相组成,即不同晶体结构的相对含量。这对于研究多相材料、相变现象以及材料的相变温度、相图等有重要意义。
晶体取向:XRD可以通过测定晶体在材料中的取向信息,包括晶体的取向度 取向分布等。这对于研究材料的晶体生长、晶体取向对性能的影响以及材料的 织构(texture) 等有关键作用。
晶体缺陷:XRD可以通过分析衍射图样来研究材料中的晶体缺陷,例如晶格畸变、晶体中的位错、栾晶等。这对于理解材料的缺陷结构、缺陷对材料性能的影响以及材料的失效机制等具有重要意义。
晶体尺寸和形态:XRD可以通过研究衍射峰的形状和宽度来估计晶体的尺寸和形态,包括晶体的晶粒尺寸、晶体的形貌等。这对于研究材料的微观结构、晶体生长机制、晶体的形态控制等有重要作用。
晶体样品:XRD最常用于测量晶体样品,包括单晶和多晶样品。晶体可以是无机晶体(如金属、陶瓷、矿物、无机盐等)或有机晶体(如有机小分子晶体、生物大分子晶体等)。通过XRD可以得到晶体的晶体结构、晶格常数、晶胞参数、晶体取向、晶体缺陷等信息。多相样品:XRD可以用于研究多相样品,即由多个晶体相组成的样品。例如,合金、复合材料、陶瓷复合材料等。通过分析XRD衍射图样,可以确定不同相的相对含量、晶体结构和晶体相之间的相互作用等。
薄膜和涂层样品:XRD可以用于测量薄膜和涂层样品的晶体结构和取向信息。这对于研究薄膜的晶体生长、晶体取向控制、涂层的结构性能等具有重要意义。常见的薄膜和涂层样品包括金属薄膜、氧化物薄膜、涂层材料等。
纳米材料:XRD可以用于研究纳米材料的晶体结构和晶体尺寸。纳米材料通常具有特殊的尺寸效应和界面效应,对其进行XRD分析可以帮助了解其晶体结构、晶体尺寸、晶体形态等性质。
粉末样品:XRD可以用于测量粉末样品的衍射谱,从而得到粉末样品的晶体结构和相组成等信息。粉末样品广泛应用于材料研究和工业生产中,例如金属粉末、陶瓷粉末、药物粉末等。
其他样品:XRD还可以用于测量其他类型的样品,如纤维样品、液晶样品、无定形样品等,从而获得有关其结构和性质的信息。
样品信息:提供待测样品的详细信息,包括样品类型、样品形态(例如固体、粉末、涂层、薄膜等)、样品尺寸、样品组分等。这将有助于工程师选择合适的测量方法和参数。
测试目的:明确测试的目的和需求,例如是为了分析样品的晶体结构、晶胞参数、晶体缺陷、相变行为等。清楚的测试目的将有助于工程师选择合适的测试方法和数据处理方法。
特殊要求:如果您有特殊的测试要求,例如需要特定的测试温度、湿度、压力条件下进行测试,或者需要特定的数据处理方法或报告形式等,都应该提前告知工程师。
样品制备:告知工程师样品的制备情况,包括样品的研磨、固定、取样等步骤。如果样品制备过程中使用了特殊的方法或处理,也应该告知工程师,以确保测试结果的准确性。
其他信息:根据实际情况,您还可以提供其他相关信息,例如已有的先前测试结果、样品的历史信息、样品的安全注意事项等。
X'Pert HighScore (PANalytical): 这是一款功能强大的XRD数据处理和分析软件,提供了广泛的数据处理、相量化、晶体学参数计算、相同定量分析等功能,适用于各种样品类型和应用领域。XRD Commander (Bruker): 这是Bruker公司推出的一款全面的XRD数据处理和分析软件,提供了丰富的功能,包括数据处理、晶体学参数计算、相量化、晶体结构分析、相同定量分析等。
JADE: 这是一款常用于XRD数据分析的软件,由国际粉末衍射标准委员会(Joint Committee on Powder Diffraction Standards,简称JCPDS)开发和发布。JADE软件提供了丰富的功能,用于从XRD数据中提取样品的结构信息,包括晶胞参数、晶体结构、相量化、晶格畸变等。
TOPAS (Bruker): 这是一款专业的Rietveld法晶体结构分析软件,用于从XRD数据中获得样品的晶体结构信息,包括晶胞参数、原子位置、晶格畸变等。
PowderX (百福软件): 这是一款免费的XRD数据处理和分析软件,提供了基本的数据处理、相量化、晶体学参数计算等功能,适用于一些简单的XRD数据分析需求。
Origin (OriginLab): 这是一款通用的科学数据处理和分析软件,也可以用于XRD数据处理和分析。它提供了丰富的绘图、拟合、统计分析等功能,适用于多种科学和工程领域。
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