原标题:谷歌副总裁警告不要盲目投资ChatGPT
鞭牛士 2月15日消息,据报道,谷歌副总裁、有“互联网之父”之称的温特·瑟夫(Vint Cerf)在美国加利福尼亚州一场会议上表示,不要因为ChatGPT“是一个热门话题”,这项技术“很酷”,就争先恐后地投资对话式人工智能(AI)。
“每个人都在谈论ChatGPT或谷歌版的对话式AI(Bard),但我们知道,它们并不总是按照我们希望的方式运行。”
瑟夫表示,不要仅仅因为这项技术“真的很酷”就去投资,它甚至无法一直保持正常工作,会出现错误。
互联网之父温特瑟夫。视觉中国 资料图又一位大佬对聊天机器人的投资热发出警告。 当地时间2月14日,谷歌副总裁、有“互联网之父”之称的温特·瑟夫(Vint Cerf)在美国加利福尼亚州一场会议上表示
融资ChatGPT谷歌
澎湃新闻 2023-02-15
可惜的是,由于Bard还没有准备好,只是为了避免落后ChatGPT太多而仓促推出,导致在宣传时出现了不小的BUG,致使谷歌母公司Alphabet的股价大跌,市值一天蒸发了1000亿美元,可谓是赔了夫人又折兵。…
谷歌ChatGPT
互联网无边界 2023-03-05
在GPT-4发布后,我被赋予了一项新的使命:重新思考OpenAI安全系统的愿景,并将工作集中在一个掌控完整安全堆栈的团队之下。我特别为我们最新的成就——o1-preview模型感到自豪,它是我们迄今为止最安全…
OpenAIGPT-4
三言财经 2024-11-10
两人的对话,或许可以解答谷歌在推出Bard这项事情上十分谨慎以及谷歌“限制”Bard背后的原因。《华尔街日报》记者JoannaStern对这场硅谷AI大战,做了一个形象的比喻,“谷歌推出的Bard是ChatGPT的竞争对手,而ChatGPT又是微软Bing的继兄弟。”
谷歌微软华尔街ChatGPTBard
智东西 2023-03-30
4月8日,由中国人工智能学会主办的“人工智能大模型技术高峰论坛”主论坛在杭州萧山启幕。据证券时报,何晓冬表示,针对真实的产业需求,京东将在今年发布新一代产业大模型,言犀是“京东版”ChatGPT,言犀大模型预训练参数达到千亿级,品类覆盖3000+,人工审核通过率95%+、生成文字30亿+。
ChatGPT人工智能
每日经济新闻 2023-04-08
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,昆山凯富宁威电子技术有限公司取得一项名为“一种高速连接器测试夹具”的专利,授权公告号CN222212835U,申请日期为2024年4月。
金融界 2024-12-28
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,昆山凯富宁威电子技术有限公司取得一项名为“一种测试线缆信号能力的夹具”的专利,授权公告号CN222212834U,申请日期为2024年4月。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,江苏远航锦锂新能源科技有限公司取得一项名为“一种便捷的电池测试夹具”的专利,授权公告号CN222212826U,申请日期为2024年4月。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,苏州久煌自控科技有限公司取得一项名为“一种全自动电容高压测试机”的专利,授权公告号CN222212824U,申请日期为2024年3月。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,湖北万测科技有限公司取得一项名为“一种电动机可靠性测试装置”的专利,授权公告号CN222212833U,申请日期为2024年4月。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,成都汉准质量检测有限公司取得一项名为“一种可在液氮和液氦超低温环境中使用的剪切试验工装”的专利,授权公告号CN222212453U,申请日期为2024年4月。专利摘要显示,本实用新型公开了一种可在液氮和液氦超低温环境中使用的剪切试验工装,本实用新型涉及工装设备技术领域。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,济南泛华电气有限责任公司取得一项名为“一种大开口型回路电阻测试夹”的专利,授权公告号CN222212838U,申请日期为2024年11月。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,深圳市彩晶达科技有限公司取得一项名为“一种OLED显示屏高温测试装置”的专利,授权公告号CN222212837U,申请日期为2024年4月。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,北京安易控科技有限公司取得一项名为“一种IO模块测试架”的专利,授权公告号CN222212836U,申请日期为2024年4月。
金融界2024年12月28日消息,国家知识产权局信息显示,成都恒创智通科技有限公司取得一项名为“一种集成电路的测试卡板”的专利,授权公告号CN222212827U,申请日期为2024年4月。专利摘要显示,本实用新型涉及集成电路测试设备技术领域,尤其涉及一种集成电路的测试卡板。
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