上海勘测设计研究院申请高低温环境变形测量装置、方法专利，使高低温环境测量变形装置不惧高低温正常使用

金融界2024年11月9日消息，国家知识产权局信息显示，上海勘测设计研究院有限公司申请一项名为“一种高低温环境变形测量装置、方法”的专利，公开号 CN 118913061 A，申请日期为 2024年8月。

专利摘要显示，本发明提供一种高低温环境变形测量装置、方法，包括高低温箱、形变组件、以及测量组件，所述形变组件设置在高低温箱内，用于夹持试样并使试样形变；所述测量组件设置在高低温箱外，用于测量试样的形变量；所述高低温箱中的温度可调节。本发明中的测量组件设置在高低温箱外，也即测量组件处于常温环境中使高低温环境测量变形装置不惧高低温正常使用，解决了现有技术中电子引伸计不能在高低温环境下使用的问题。

来源：金融界