珏芯微电子申请杜瓦组件热负载和热质量测试专利，能够精确测量不同焦平面温度

金融界2024年9月30日消息，国家知识产权局信息显示，浙江珏芯微电子有限公司申请一项名为“一种杜瓦组件热负载和热质量的测试方法及装置”的专利，公开号CN 118706272 A，申请日期为2024年6月。

专利摘要显示，本发明公开了一种杜瓦组件热负载和热质量的测试方法及装置，属于杜瓦热负载测试技术领域；包括步骤S1，将待测试杜瓦组件倒置于固定工装上；步骤S2，通过数字万用表测试位于待测试杜瓦组件内部的电阻加热片在未通电条件下，待测试杜瓦组件的焦平面从液氮温度下开始的第一升温速率；步骤S3，通过数字万用表测试电阻加热片在通电条件下，待测试杜瓦组件的焦平面从液氮温度下开始的第二升温速率；步骤S4，通过上位机输出热负载和热质量。上述技术方案的有益效果是：能够精确测量不同焦平面温度下的杜瓦热负载和热质量，满足实际测试要求，避免了杜瓦表面结霜或液氮沸腾起泡等现象，测试精度高，无需反复测试。

来源：金融界