武汉恩达通科技申请一种用于定长及测试光模块的光纤阵列的结构和方法专利，能够通过带有仿形孔的盖板对光线阵列的光纤进行快速准确的定长
金融界 2024 年 11 月 11 日消息，国家知识产权局信息显示，武汉恩达通科技有限公司申请一项名为“一种用于定长及测试光模块的光纤阵列的结构和方法”的专利，公开号 CN 118915248 A，申请日期为 2024 年 10 月。
专利摘要显示，本发明公开了一种用于定长及测试光模块的光纤阵列的结构和方法，包括底座和可拆卸的连接于底座上的盖板，所述盖板上加工有至少一个用于定位光纤阵列的 FA 头子的第一定位孔和用于定位光纤阵列的 MT 头子的第二定位孔，每个第一定位孔和第二定位孔通过仿形孔连通，所述仿形孔的长度与目标纤长长度相对应，所述底座上设置有用于夹持位于第一定位孔内的 FA 头子和位于第二定位孔内 MT 头子的弹性加载单元。本发明不仅结构简单、维护方便，而且能够通过带有仿形孔的盖板对光线阵列的光纤进行快速准确的定长。
来源：金融界
