小为光电申请平面光流测距仪专利，避免测量人员手工测量带来的误差

金融界2024年11月11日消息，国家知识产权局信息显示，常州小为光电科技有限公司申请一项名为“平面光流测距仪的高精度测量方法、装置、扫描仪及存储介质”的专利，公开号CN 118915039 A，申请日期为2024年8月。

专利摘要显示，本发明公开了，平面光流测距仪的高精度测量方法、装置、扫描仪及存储介质，将平面光流测距仪底部与被测物接触，其中，所述发光二极管发出光线并照射在所述被测物体；通过所述图像传感器收所述发光二极管照射在被测物体的所述图像；将所述平面光流测距仪与所述被测物接触并移动，在此过程中产生的多个不同的所述图像传送给所述图像处理器；通过所述图像处理器内的所述光学引擎对所述图像进行数字化处理；通过所述光学引擎中的所述定位芯片对多个不同的所述图像数字矩阵进行分析并计算出平面光流测距仪运动距离。本发明避免了测量人员由于手工测量带来的误差，减少测量人员工作量，加快测量速度、提高测量精度。

来源：金融界