长鑫存储申请一种存储电路、测试方法及其存储器专利，能完成存储阵列和压缩电路的测试处理

金融界2024年11月4日消息，国家知识产权局信息显示，长鑫存储技术有限公司申请一项名为“一种存储电路、测试方法及其存储器”的专利，公开号CN 118887988 A，申请日期为2023年4月。

专利摘要显示，本公开提供了一种存储电路、测试方法及其存储器，该存储电路包括存储阵列和压缩电路；在测试过程中，在接收到读指令后，存储阵列产生多个读取数据组；压缩电路基于掩蔽选择信号对多个读取数据组进行压缩处理，产生测试结果数据；其中，掩蔽选择信号指示压缩电路掩蔽多个读取数据组中的部分数据。

来源：金融界