上海三伍微电子取得射频芯片耐温性能检测设备专利，可规避安全风险

金融界2024年12月28日消息，国家知识产权局信息显示，上海三伍微电子有限公司取得一项名为“一种射频芯片的耐温性能检测设备”的专利，授权公告号 CN 222212882 U，申请日期为 2024 年 4 月。

专利摘要显示，本实用新型涉及射频芯片的检测技术领域，具体为一种射频芯片的耐温性能检测设备，包括主控系统箱，主控系统箱的顶部一侧通过自动升降夹具活动安装有加热头机构，主控系统箱靠近加热头机构底部中心处的一侧面固定安装有检测座，检测座的顶部远离主控系统箱一侧固定安装有限位架，本实用新型可利用自动升降夹具可实现加热头机构与检测座的自动闭合，且对热流罩具有固定功能，有效的规避了安全风险，同时密封性得到保证，减小测试结果的误差。

来源：金融界