上海帼计集成电路技术有限公司取得芯片老化测试装置专利，可对芯片老化进行测试

金融界2024年12月28日消息，国家知识产权局信息显示，上海帼计集成电路技术有限公司取得一项名为“一种芯片老化测试装置”的专利，授权公告号CN 222212881 U，申请日期为2024年3月。

专利摘要显示，本实用新型公开了一种芯片老化测试装置，包括测试箱体，所述测试箱体的内部侧壁设有调节仓，所述调节仓内设有温湿度调节设备，所述测试箱体内侧壁设有排气口和风道，所述风道分别与排气口和调节仓相连通，所述测试箱体前侧面开口，所述测试箱体内滑动设有承载结构，所述承载结构包括密封板和限位台，所述限位台上设有安装槽，所述安装槽内滑动设有测试板，所述测试箱体内相对侧壁设有限位滑槽，所述限位台滑动设于限位滑槽内，所述测试板内均布设有多组测试槽。本实用新型涉及芯片老化测试技术领域，具体提供了一种芯片老化测试装置。

来源：金融界