凌思微申请RISC-V芯片实时监控调试专利，提高了开发调试效率

金融界2024年9月30日消息，国家知识产权局信息显示，凌思微电子（杭州）有限公司申请一项名为“RISC-V芯片的实时监控调试方法、装置和电子设备”的专利，公开号CN 118708445 A，申请日期为2024年8月。

专利摘要显示，本申请提供一种RISC‑V芯片的实时监控调试方法、装置和电子设备，涉及芯片设计和调试领域。该方法中，初始化调试模式控制与状态寄存器的ebreakm位，判断所述ebreakm位是否被修改在修改为调试位的情况下，执行ebreak指令；读取所述RISC‑V芯片的暂停位，在进入调试状态的情况下，修改调试模块状态寄存器和所述调试模式控制与状态寄存器的cause位；在所述调试模块状态寄存器中的值指示为暂停的情况下，判断所述cause位的值是否为调试状态；在所述cause位的值指示为调试状态的情况下，直接获取所述RISC‑V芯片中的调试信息，并进行显示。能够直接读取调试信息，结构简单，提高了开发调试效率。

来源：金融界