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扬杰科技取得避免打火现象的高压碳化硅产品专利,避免芯片打火现象发生

作者:金融界发布时间:2024-09-18

金融界 2024 年 9 月 18 日消息,天眼查知识产权信息显示,扬州扬杰电子科技股份有限公司取得一项名为“避免打火现象的高压碳化硅产品“,授权公告号 CN221727119U,申请日期为 2023 年 12 月。

专利摘要显示,避免打火现象的高压碳化硅产品,涉及半导体技术领域。本实用新型中沟槽刻蚀区可以和对准标记图形同一层光刻板制作,不增加工艺复杂度和制造成本。芯片边缘刻蚀沟槽使得 P 区注入结深增加,在器件反向加压测试时时,使得背面电极的等势面不再划片道表面,由于刻蚀形成的深 PN 结在反向耗尽时,其电场梯度几乎全部转移到耗尽区内,划片道表面电势将被极大限度的拉低,两者之间的电势差根本不足以激发空气电离,从未避免上述打火现象的发生。并且,刻蚀后形成的 PN 结深更深,电场梯度转移到更深的外延层内,终端至划片道可以设计的更小,从而提高晶圆利用率,降低成本。

来源:金融界


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